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Casa ProdutosTeste a ponta de prova do dedo

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

China Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited Certificações
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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Imagem Grande :  Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Detalhes do produto:
Lugar de origem: CHINA
Marca: Pego Electronics
Certificação: Third-Lab Calibration Certificate
Número do modelo: PG-TPB
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: 1 conjunto
Preço: Negociável
Detalhes da embalagem: Caixa de protecção+cartão
Tempo de entrega: 3 dias úteis
Termos de pagamento: T/T, PayPal
Habilidade da fonte: 1000pc/mês
Descrição de produto detalhada
Conformidade com a norma: A partir de 1 de janeiro de 2014, a Comissão deve apresentar ao Conselho e ao Parlamento Europeu uma Material: Material isolante (manilha) e metal (dedo)
Tempo de espera: 3 dias úteis Aplicativo: para verificar a acessibilidade a partes perigosas
Tipo: sonda de acesso Propulsor: 0N-50N
Destacar:

30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe

,

80±0.2 Length Standard Test Finger

,

180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

Insulating Material Standard Test Finger for Accessibility Test Thruster 0N-50N
Standard Test Finger for Accessibility Test
Introduction
The Standard Test Finger, also known as jointed test finger or test probe B, simulates human fingers to verify accessibility to hazardous parts in electrical and electronic devices. This essential testing tool is widely referenced in standards including IEC60335-1, IEC62368-1, and IEC60598-1.
Designed in strict compliance with IEC61032 Figure 2, the probe features an insulating handle and metal finger. The built-in 0-50N thruster accommodates required test forces of 10N and 30N. An integrated wire connects to an electrical indicator to detect accessibility of hazardous live parts.
Specification
Model PG-TPB
Jointed point size 1 30±0.2
Jointed point size 2 60±0.2
Length of finger 80±0.2
Fingertip to baffle size 180±0.2
Fingertip taper fillet S4±0.05
Diameter of finger Ф12 0 -0.05
Diameter of baffle Ф75±0.2
Thickness of baffle 5±0.5
A-A section diameter Ф50
A-A section width Ф20±0.2
Thruster 10N optional
Standard IEC61032
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing 0

Contacto
Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited

Pessoa de Contato: Ms. Penny Peng

Telefone: +86-18979554054

Fax: 86--4008266163-29929

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